データー記録：
調整された試料の試験ポイントを決める。
もし、試料が不均一な場合（厚みが不揃い、継ぎ目、ファスナー、あるいは他の要因 で）、試料の試験ポイントは、試料の端部から3.0インチ（75ｍｍ）以上離れた場所で、衝撃減衰性 能が最も小さいと思われる試料の表面でなければならない。
もし、試料が均一な性質のものであった場合は、試験ポイントは試料表面の中心とする。
試料を平らで固い鉄床（アンビル）、又は衝撃試験システムの下の床の上に装着する。
試料テストポイントと半球体の衝撃ポイントを合わせて並べ、試料を鉄床又は床へ試料の衝 撃減衰性能が変わらないような適切な方法（例えば、両面粘着テープ）で固定する。
― 単一表面試料での試験はg-maxの変化とHICスコアが、試料が下の面に固定されていない場合は、4つ以上の要因で大きく なることを示している。
どの一連の試験においても最初の落下の前に、半球体を基準落下高さに上昇させる。一 連の試験の次の落下に対しては、試験される表面に凹みの形成で変化があるが、半球体 は同じポイントに持ち上げる。
どの一連の試験においても、最初の落下を行う前に、落下高さを測定し、記録する。
半球体を解放し、加速度測定システムと落下高さ測定システムの出力を記録する。も し、衝撃前又は途中で半球体の軌道が取り付け具、人による接触、あるいはその他のも ので妨害を受けた場合、試験のデーターは棄却すべきである。
衝撃によって形成された凹みの深さを記録しておく。
? 深さは、便宜上、持ち上げられた半球体の最下点と試験中の表面との距離を測定して決める。空洞深さはこの測定と最初 に測定した落下高さとは異なっている。
データーチェック（Dater Check）
加速表示装置を試験する。記録された加速度パルスは下記の要件に適合しなければならな い：
加速度パルスは単一の主要な衝撃事象を構成している。
衝撃の直前、記録された加速度値は0±2ｇでなければならない。
加速度の波形は、その最高値から0±2ｇの安定値へゼロのベースラインを2ｇ以上オーバー シュートすることなく下がっている。
― 衝撃後の加速度信号の過度のオーバーシュートは検出器又は信号処理装置のエラーを示唆している。オーバーシュート は、しばしば、加速度計データーチャンネル内の不適切な低周波数応答の兆候である。
もし、記録された加速度パルスが11.2項の規格に適合しない場合は、試験は新しく調整 した試料を用いて再スタートしなければならない。
g-maxとHICスコアを計算し、記録する。
理論的落下高さを計算し、記録する。もし、計算された理論落下高さが実測高さと±3インチ （±76ｍｍ）又は実測高さの±2％異なっている場合は、試験のデーターは棄却されるべきであ る。
― 理論落下高さと実測高さの間の差が規定の差より大きいということは衝撃速度の測定誤差、落下時間の測定誤差、又は半 球体の落下が誘導機構の過度の摩擦で遅らされたということを示唆している。
もし、自由落下試験を行った場合、衝撃の瞬間、及び9.4項に従った最大合成加速度にお ける半球体角度を計算する。もし、計算された半球体の角度が何れかのポイントで 10°（半球体のコサイン（cos.）が0.966以下）を超える場合は、試験からのデーターは 棄却せねばならない。